全自动激光粒度仪核心测量的技术特点如下

　　全自动激光粒度仪是一种集光、机、电、计算机为一体的高科技产品，主要用于测量颗粒的粒径分布。利用光散射原理来测量颗粒的粒径分布。当激光照射到颗粒上时，颗粒会产生衍射和散射现象，不同粒径的颗粒会产生不同的散射光分布。通过检测和分析这些散射光的分布，可以反推出颗粒的粒径分布。

　　全自动激光粒度仪主要由激光器、样品池、光学系统、探测器和数据处理系统等部分组成。激光器发出的激光经过光学系统聚焦后，照射到样品池中的颗粒上。颗粒散射的光被光学系统收集，并聚焦到探测器上。探测器将光信号转换成电信号，数据处理系统对这些电信号进行分析和处理，最终得到颗粒的粒径分布信息。

　　全自动激光粒度仪的核心测量技术特点：

　　1、全量程米氏散射理论（Mie Scattering Theory）：

　　采用z精确的米氏散射理论进行数据反演计算，而非近似的夫琅禾费（Fraunhofer）理论。

　　优势：能准确测量从亚微米级（如0.02µm）到毫米级（如2000µm）的宽范围颗粒，尤其对小颗粒（<1µm）和接近散射角度极限的颗粒测量精度更高，并可考虑颗粒的折射率和吸收率，结果更真实可靠。

　　2、先进的光学系统设计：

　　长焦距傅里叶光学变换系统：确保散射角与探测器位置的精确对应关系，提高角度分辨率。

　　大角度散射光采集：配备多层、高密度的光电探测器阵列，能捕捉到从前向、侧向到后向（高达140°以上）的散射光信号。

　　优势：有效提升对亚微米级超细颗粒的分辨能力和测量灵敏度，避免小颗粒信号被大颗粒信号掩盖。

　　3、高动态范围与高分辨率探测器：

　　采用高灵敏度、低噪声的光电探测器（如雪崩光电二极管APD用于小角，硅光电二极管用于大角），确保微弱散射信号也能被精确捕捉。

　　探测器数量多（可达百个以上），分布合理，保证数据采集的完整性和分辨率。