您好,欢迎进入济南微纳颗粒仪器股份有限公司网站!
产品列表

—— PROUCTS LIST

新闻动态News 当前位置:首页 > 新闻动态 > 任中京教授受邀参加2013年SAC/TC168颗粒分技术委员会年会

任中京教授受邀参加2013年SAC/TC168颗粒分技术委员会年会

点击次数:1923 发布时间:2013-11-04

全国颗粒表征与分检及筛网标委会颗粒分技术委员会(以下简称“分委会”)年会于10月19日-21日在安徽池州召开。会议由国家非金属矿深加工产品质量监督检验中心承办,共有28名委员和代表参会。会议讨论了立项项目的拟定标准及其颗粒分析技术在国内的适用性、应用领域、标准名称的适宜性以及与标准的关系等。

作为全国颗粒测试技术的者济南微纳颗粒仪器股份有限公司的董事长任中京教授受邀参加了此次会议。任中京教授从事激光颗粒分析理论与技术研究工作30年有余。期间主持并完成国家省部科技攻关项目4项。发表论文60余篇,其中收入美国工程索引(EI)研究论文20余篇,在颗粒学研究领域享有很高声誉。

公司:http://www.jnwinner.com

地址:济南市高新区大学科技园北区F座东二单元

2024@ 济南微纳颗粒仪器股份有限公司 版权所有

总流量:683626  管理登陆  技术支持:化工仪器网  GoogleSitemap  ICP备案号: