摘要：测量下限是光散射颗粒测试技术的重要指标。本文对颗粒散射光的光强分布进行了细致比较，对Mie散射向Rayleigh散射趋近的情况进行了分析，本文通过对Mie散射理论的深入研究和计算机模拟证实，对于氦氖激光，当测量粒径在0.2微米以下，Mie散射的解迅速趋近于Rayleigh散射的解，其光强分布函数变得简单，特别是在50纳米以下，我们无法用通常的静态光散射法从光强空间分布函数中提取足够的信息来计算颗粒直径。本文的结果对各种光散射颗粒测试设备的研究有参考价值。关键词：颗粒；粒...