激光粒度仪未来市场竞争激烈

    激光粒度仪未来市场竞争激烈 
    激光粒度仪是根据光的散射原理测量粉颗粒大小的，见附图。具有测量的动态范围大、测量速度快、操作方便等优点，是一种适用面较广的粒度仪，可以用于测量各种固体粉末、乳液颗粒、雾滴的粒度分布，现实的仪器一般根据具体的用途作具体的设计。
    激光粒度仪利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。欧美克通过对光学、机械、电子、计算机等系统的整合和优化，使欧美克激光粒度仪具备重复性良好、动态测量范围宽广、操作简单方便等优点。当光束前进过程中遇到颗粒时，激光粒度仪将发生散射现象，散射光与光束初始传播方向形成一个夹角θ，散射角的大小与颗粒的粒径相关，颗粒越大，产生的散射光的θ角就越小。颗粒越小，激光粒度仪产生的散射光的θ角就越大。这样，测量不同角度上的散射光的强度，就可以得到样品的粒度分布了。
　　激光粒度仪利用光的散射原理测量粉颗粒大小的，是一种当前粒度测量领域应用zui广泛的的粒度仪。其特点是测量的动态范围宽、测量速度快、操作方便，尤其适合测量粒度分布范围宽的粉体和液体雾滴。激光粒度仪作为一种测试性能优异和适用领域极广的粒度测试仪器，已经在其它粉体加工与应用领域得到广泛的应用。
    随着粉体技术的发展，对激光粒度仪的性能要求在逐步的提高，特别是粒度仪的量程要求越来越宽，测量下限要求达到几百甚至几十个纳米，测量上限要求达到一千甚至几千微米。这对新型激光粒度仪设计者提出了极大的挑战。
　　颗粒越细，散射光的角度越小，微小颗粒的散射光甚至在360度范围内都有分布。为了拓展仪器的测量下限，需要有非常规的光学设计。颗粒越小，分布在360度空间范围的散射光光强差越小，当颗粒小到一定极限，光强差将小得几乎难以被分辨出来。这时就到了激光粒度仪的测量下限了。光学设计上的障碍和散射光本身的特性决定了常规激光粒度仪的测量下限一般在0.02微米左右。
　　激光粒度仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。激光粒度仪采用*的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级，从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。